這(zhè)是(shì)行業(yè)仲(zhòng)裁(cái)檢測方法。截取小(xiǎo)段(duàn)石(shí)墨(mò)管(guǎn)，用環氧樹(shù)脂冷鑲嵌(qiàn)固(gù)定，依(yī)次用碳化矽(guī)砂(shā)紙逐級打磨，再用金(jīn)剛(gāng)石拋光劑精細拋(pāo)光(guāng)，讓截麵平整(zhěng)，塗(tú)層與(yǔ)基體(tǐ)分界(jiè)清(qīng)晰(xī)。將(jiāng)樣品放到金(jīn)相顯(xiǎn)微鏡下(xià)，以(yǐ)五(wǔ)百至一(yī)千倍(bèi)倍(bèi)率(shuài)觀測，借助鏡內測微尺讀取(qǔ)厚度數值(zhí)。同(tóng)一截麵多選(xuǎn)五個及以上點位測(cè)量，計(jì)算平(píng)均值。該方法數(shù)據直(zhí)觀，精(jīng)度穩定(dìng)，缺點是會(huì)損(sǔn)壞(huài)樣(yàng)品(pǐn)，樣(yàng)品製備(bèi)步(bù)驟偏繁瑣。

 

掃(sǎo)描電(diàn)子顯微鏡法

 

屬(shǔ)於高精(jīng)度檢(jiǎn)測方(fāng)式(shì)。樣品打磨，拋光流(liú)程(chéng)和金相法一(yī)致(zhì)，完成(chéng)後對樣(yàng)品(pǐn)表(biǎo)麵(miàn)做(zuò)噴金(jīn)處(chǔ)理以(yǐ)增強導電(diàn)性(xìng)。把樣品置(zhì)入設備，設置十至二十千伏加(jiā)速(sù)電(diàn)壓(yā)，調至一千(qiān)至(zhì)五千(qiān)倍(bèi)放大倍率成(chéng)像(xiàng)，通(tōng)過(guò)配套(tào)軟件(jiàn)標定(dìng)界麵並(bìng)測算厚(hòu)度(dù)。此方法(fǎ)測(cè)量精度最高(gāo)，還能觀(guān)察(chá)塗(tú)層微(wēi)觀結構，不(bù)足(zú)之處是設備(bèi)造價高(gāo)，同(tóng)樣屬於破壞性檢(jiǎn)測，不(bù)適合(hé)大批(pī)量(liáng)檢測(cè)。

 

球坑測試法(fǎ)

 

多用於生(shēng)產現場快(kuài)速(sù)抽(chōu)檢，檢(jiǎn)測(cè)過(guò)程不(bù)會(huì)損傷工(gōng)件。采用標(biāo)準(zhǔn)鋼球在(zài)管(guǎn)壁表麵(miàn)研(yán)磨出半(bàn)球(qiú)形凹坑，再用(yòng)普通顯微(wēi)鏡測(cè)量(liáng)凹坑(kēng)尺寸(cùn)，結合(hé)幾何關係計(jì)算出塗層厚(hòu)度(dù)。整(zhěng)套操作耗(hào)時(shí)短(duǎn)，上(shàng)手(shǒu)簡單，檢(jiǎn)測(cè)前需(xū)用(yòng)標準樣品完(wán)成(chéng)設(shè)備校(xiào)準，整體(tǐ)測(cè)量精(jīng)度處於中(zhōng)等(děng)水平(píng)。

 

X射(shè)綫熒光法

 

無損快(kuài)速檢(jiǎn)測手段，適(shì)合(hé)批量篩查(chá)。依據塗層與基體材料(liào)產生的X射綫熒光強度差(chà)異判(pàn)定(dìng)厚(hòu)度(dù)，提(tí)前用(yòng)不同厚度的(dí)標準試樣建立(lì)校準曲(qū)綫(xiàn)。將(jiāng)探頭(tóu)貼合(hé)管壁，短時間(jiān)就能讀(dú)出數(shù)據，檢(jiǎn)測時多點測量取平(píng)均即可(kě)。該(gāi)方法(fǎ)操作簡便，設備可便攜(xié)，測(cè)量精度(dù)一(yī)般(bān)，僅(jǐn)適用於常規(guī)厚度範圍的檢測(cè)。

 

實(shí)操注(zhù)意事項

 

熱解石(shí)墨(mò)和(hé)石(shí)墨基體材質接近(jìn)，打磨拋(pāo)光(guāng)不到(dào)位(wèi)會導(dǎo)致界(jiè)麵模糊(hū)，直接影(yǐng)響(xiǎng)測量(liáng)結(jié)果。塗(tú)層(céng)厚度(dù)較薄時優先選(xuǎn)用掃(sǎo)描(miáo)電子(zǐ)顯微鏡，常規厚度(dù)可(kě)選擇(zé)金相(xiāng)法(fǎ)或球(qiú)坑(kēng)法。檢(jiǎn)測(cè)時(shí)要(yào)在(zài)管(guǎn)身(shēn)中部，靠(kào)近管(guǎn)口等不(bù)同位置分別(bié)測試(shì)，以此判斷(duàn)塗(tú)層(céng)整體均匀性。